硬盤軟故障處理方法

　　由于計算機硬盤存儲容量大，讀寫速度快，且安裝在一個密閉腔體內(nèi)，工作環(huán)境清潔、性能較穩(wěn)定、使用方便，因此，在微機中得到廣泛的應(yīng)用。但如果對硬盤使用不當或感染病毒后，容易引發(fā)故障。

　　硬盤故障分為硬故障和軟故障兩大類，其中軟故障出現(xiàn)較頻繁。故障現(xiàn)象大都表現(xiàn)為硬盤不能自啟動。當硬盤出現(xiàn)軟故障時，采取行之有效的應(yīng)急處理很重要，下面介紹的只是相對于最常見的故障情況而進行的檢查、處理步驟。

　　一、檢查 CMOS 設(shè)置及處理方法：

　　CMOS 系統(tǒng)設(shè)置錯誤所引起的硬盤軟故障，現(xiàn)象表現(xiàn)不一。有的開機后屏幕無顯示，有的僅顯示一個死光標，有的顯示“Non-System Disk Error”(非系統(tǒng)盤或盤出錯)等提示。特別是在從 A 盤轉(zhuǎn)入 C 盤時，屏幕出現(xiàn)“Invaild Driver Specification”(無效驅(qū)動器)，令用戶誤以為硬盤“0”磁道壞或硬盤系統(tǒng)破壞等，從而采用低級格式化、重建 DOS 分區(qū)、重新拷入 DOS 系統(tǒng)和高級格式化等方法。雖然對硬盤初始化可以排除軟故障，但硬盤數(shù)據(jù)卻被破壞。所以，由于 CMOS 設(shè)置錯誤引發(fā)的軟故障不用重新設(shè)置 CMOS 的辦法去解決，必然有所損失。而且因 CMOS 設(shè)置錯誤引起的軟故障較普遍，我們在檢查軟故障時最好第一步從檢查 CMOS系統(tǒng)設(shè)置入手。

　　二、檢查和處理方法：

　　首先檢查后備電池是否失效，如失效則更換電池，再進入 CMOS 設(shè)置。對于高檔微機，可以開機后按 Del、Esc 鍵或 Ctrl-Backspace、 Ctrl-Alt-Esc 等組合鍵進入 CMOS 設(shè)置狀態(tài)。對于低檔機，只能從 A 驅(qū)動器引導 SETUP 軟件進入 CMOS 設(shè)置狀態(tài)。CMOS 檢查中，重點檢查 CMOS系統(tǒng)設(shè)置中硬盤參數(shù)是否正確，特別是檢查硬盤類型號(TYPE)與硬盤驅(qū)動器廠家提供的參數(shù)是否相一致。如果發(fā)現(xiàn)錯誤，將參數(shù)更改為以前備份好的正確參數(shù)，保存后退出 CMOS 設(shè)置再重新用硬盤引導系統(tǒng)。萬一找不到備份參數(shù)，對于有些高檔機器，可以采用 CMOS 設(shè)置中的功能選項“HDD AUTO DETECTION”(硬盤自動檢測)來找到正確的硬盤參數(shù)。

　　如果 CMOS 設(shè)置中無此選項，可以打開機器，硬盤表面一般都有一個標簽對硬盤參數(shù)進行介紹。即使沒有介紹，至少標明此類硬盤的名稱，再根據(jù)硬盤名稱查閱各類硬盤參數(shù)資料，就可以查到正確配置參數(shù)。另外，借助于 DM 等應(yīng)用軟件也可以檢測到硬盤的參數(shù)(條件是 A 驅(qū)必須能自舉)。

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