高一物理質(zhì)點(diǎn)、參考系和坐標(biāo)系知識(shí)點(diǎn)整理
考點(diǎn)1. 質(zhì)點(diǎn)
1.定義：用來代替物體的有質(zhì)量的點(diǎn)，是一個(gè)理想化的模型。
2.原則：物體的大小和形狀對(duì)研究問題沒有影響或影響很小可以忽略不計(jì)。
考點(diǎn)2. 參考系、坐標(biāo)系
1、參考系定義：為了研究物體的運(yùn)動(dòng)而假定不動(dòng)的物體。
2、注意點(diǎn)：運(yùn)動(dòng)的描述是相對(duì)的，因參考系的選取的不同而不同。參考系的選擇以研究問題的方便為原則。
3、坐標(biāo)系：為了定量描述物體的位置及位置的.變化而建立的參考系。
考點(diǎn)3. 機(jī)械運(yùn)動(dòng)
1、定義：一個(gè)物體相對(duì)于另一個(gè)物體位置發(fā)生變化(注意機(jī)械運(yùn)動(dòng)是相對(duì)的)。
2、運(yùn)動(dòng)形式:平動(dòng)(物體上各點(diǎn)運(yùn)動(dòng)形式相同)、轉(zhuǎn)動(dòng)、振動(dòng)(圍繞某點(diǎn)往復(fù)運(yùn)動(dòng))等。
常見考點(diǎn)考法
這部分知識(shí)難度不大，在平時(shí)的練習(xí)中可能出現(xiàn)，且往往以選擇題的形式出現(xiàn)，但是高考中單獨(dú)出現(xiàn)的幾率比較小。
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